华科达实验设备为您提供优质的梅特勒电子天平XS3DU介绍如下：
梅特勒-托利多XS3DU微量天平具有的称量性能，*基础称量应用：在800 mg的精细量程范围内提供1 μg的可读性。具有同类产品中*的重复性可低至0.8 μg，是获得理想的称量可靠性的关键，避免不必要的重复测试，显著地降低了样品和时间的浪费。
梅特勒-托利多XS3DU微量天平专为提高称量效率和可靠性而设计。
标准配置
内置称量应用程序
TouchScreen触摸屏，方便天平称量和参数设置
SmartTrac彩色动态图形显示器：图形称量辅助，跟踪称量范围和公差
可设置多达10个特定功能的快捷键
可定义3个的信息，用于用户和样品标识
内置RS232C和两个辅助接口；用于连接键盘或ErgoSens外接红外感应器选件，实现无需用手接触的称量操作
第二接口选件插槽；例如LocalCAN，以太网，RS232，MiniMettler，蓝牙或PS/2等接口选件
手动开关门的玻璃防风罩
可更换的显示屏保护盖
下挂钩称量
具有过载保护的称量传感器
显示多种质量单位
差重称量应用程序
计件和百分比称量应用程序
统计应用程序
技术指标
极限值
XS3DU 双量程
zui大称量值
3.1 g
可读性
0.01 mg
zui大称量值
0.8 g
可读性
0.001 mg
重复性(sd) - 加载处
0.006 mg
- 低加载（加载处）
0.005 mg (0.2 g)
重复性(sd) - 加载处
0.001 mg
- 低加载（加载处）
0.0008 mg (0.2 g)
线性误差
0.004 mg
四角误差（加载处）1)
0.005 mg (2 g)
典型值 4)
典型重复性（sd）
0.0005 mg +1.2 x (10–7)•R_gr
典型微分非线性（sd）
√2x(10-12)g·R_nt
典型微分四角误差（sd）
1.2 x (10–6)•R_nt
典型灵敏度偏移（sd）2)
3 x (10–6)•R_nt
典型zui小称量值* (@ U=1 %, 2 sd)
0.1 mg+2.4 x (10–6)•R_gr
典型稳定时间
< 6 sec
稳定时间
< 10 sec
1) 根据OIML R76
2) 在10到30°C的温度范围内
3) *次安装，使用proFACT校准，灵敏度稳定性
4) 能用于估计不确定度 sd=标准偏差 Rgr=毛重 Rnt=净重（样品质量） a=年
* 重复性和zui小称量值可以通过以下措施得以改进：- 选择适当的称量参数设置，- 选择合适的天平放置位置，- 使用较小的去皮容器。
梅特勒电子天平XS3DU行业补充说明：
维护保养
1、将天平置于稳定的工作台上避免振动、气流及阳光照射电子天平。
2、在使用前调整水平仪气泡至中间位置。
3、电子天平应按说明书的要求进行预热。
4、称量易挥发和具有腐蚀性的物品时，要盛放在密闭的容器中，以免腐蚀和损坏电子天平。
5、经常对电子天平进行自校或定期外校，保证其处于*状态。
6、如果电子天平出现故障应及时检修，不可带“病”工作。
7、操作天平不可过载使用以免损坏天平。
8、若长期不用电子天平时应暂时收藏为好。
XS3DU售后服务政策：
1.我公司生产或经销的产品，无论用户在何地，一律按照产品说明的保修期提供保修服务满足用的各种需求。
2.产品保修期内，在正常使用的情况下出现任何产品的故障，经验证属实，可免费维修仪器或更换零部件；但因使用不当、滥用、误用或因自然灾害造成的故障，不属于免费保修范围，我公司可提供维修服务，只收取所更换零部件的成本费用；保修期外，出现仪器故障将及时维修，维修费免除，只收取成本费。
3.本公司售后服务产品，保修期均为12个月，终身维护使用。
