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梅特勒电子天平
无论您进行简单的日常工作,还是复杂的称量过程,NewClassic MS精密天平凭借其的称量性能,快速准确的结果,帮助您提高生产力。具有单模块传感器(MonoBloc)和温度漂移和时间触发的全自动校准技术(FACT)的新一代NewClassic系列天平,为您的日常称量工作提供全面的支持。
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梅特勒电子天平
量程:41.0 g; 120.0 g
可读性:0.01 mg; 0.1 mg
Z小称量值 (USP),典型值:20.0 mg
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梅特勒电子天平
量程:81.0 g; 220.0 g
可读性:0.01 mg; 0.1 mg
Z小称量值 (USP),典型值:20.0 mg
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梅特勒电子天平
量程:120.0 g
可读性:0.1 mg
Z小称量值 (USP),典型值:80.0 mg
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梅特勒电子天平
XPE分析天平提供的分析称量性能,并满足至高的安全性、效率且易于合规。XPE 分析天平重复性低,因此提供更小的称量值;质量管理特征,例如创新的状态指示灯 (StatusLight)和获得的静电检测 (StaticDetect) 技术,可免除您在称量方面的担忧并对获得值得信赖的结果;凭借各种选件和多个连接选项,XPE 天平可满足您日益增长的需求。您可在今后数年进行各种称量;
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梅特勒电子天平
XPE分析天平提供的分析称量性能,并满足至高的安全性、效率且易于合规。XPE 分析天平重复性低,因此提供更小的称量值;质量管理特征,例如创新的状态指示灯 (StatusLight)和获得的静电检测 (StaticDetect) 技术,可免除您在称量方面的担忧并对获得值得信赖的结果;凭借各种选件和多个连接选项,XPE 天平可满足您日益增长的需求。您可在今后数年进行各种称量;