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梅特勒电子天平
XPE分析天平提供的分析称量性能，并满足至高的安全性、效率且易于合规。XPE 分析天平重复性低，因此提供更小的称量值；质量管理特征，例如创新的状态指示灯 （StatusLight）和获得的静电检测 （StaticDetect） 技术，可免除您在称量方面的担忧并对获得值得信赖的结果；凭借各种选件和多个连接选项，XPE 天平可满足您日益增长的需求。您可在今后数年进行各种称量；
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梅特勒电子天平
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梅特勒电子天平
具有瑞士品质的NewClassic ME半微量天平，设计坚固、简单可靠，操作高效的性能赋予天平非同凡响的价值，在有限预算内成为您的理想选择。人体工程学设计，前置水平调节系统，使天平在使用时，始终确保在您的视角下保持水平状态，让您的日常称量变得轻松高效，人性化的设计让您的各种称量应用功能唾手可得，直观的按键和明亮的背亮液晶显示屏，使天平操作也极其简单。NewClassic ME半微
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梅特勒电子天平
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梅特勒电子天平
得益于梅特勒-托利多对产品质量，设计，耐久性和称量准确性的高度重视，新经典系列天平MS，ML 和ME 在范围内都获得了巨大的成功。
2015 年全新MS-TS 天平新一代触摸屏产品的上市，将积极适应实验室称量市场的发展和变化，再次设定了中低端天平市场的新标准。
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梅特勒电子天平
得益于梅特勒-托利多对产品质量，设计，耐久性和称量准确性的高度重视，新经典系列天平MS，ML 和ME 在范围内都获得了巨大的成功。
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