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梅特勒电子天平
无论您进行简单的日常工作，还是复杂的称量过程，NewClassic MS精密天平凭借其的称量性能，快速准确的结果，帮助您提高生产力。具有单模块传感器（MonoBloc）和温度漂移和时间触发的全自动校准技术（FACT）的新一代NewClassic系列天平，为您的日常称量工作提供全面的支持。
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梅特勒电子天平
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梅特勒电子天平
XPE分析天平提供的分析称量性能，并满足至高的安全性、效率且易于合规。XPE 分析天平重复性低，因此提供更小的称量值；质量管理特征，例如创新的状态指示灯 （StatusLight）和获得的静电检测 （StaticDetect） 技术，可免除您在称量方面的担忧并对获得值得信赖的结果；凭借各种选件和多个连接选项，XPE 天平可满足您日益增长的需求。您可在今后数年进行各种称量；
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梅特勒电子天平
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梅特勒电子天平
校准方式 ：外部校准
精度 ：10mg
称量范围 ：820g
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梅特勒电子天平
校准方式 ：外部校准
精度 ：10mg
称量范围 ：4200g
